Strona główna - katalog internetowy - używane elementy i części serwisowe, zastępcze i do naprawy mikroskopów - Sermik-Oplatek Mikroskopservice Dresden f.n.n.Z

Opis tej części do mikroskopu.

Polam

Mikroskopowa wsuwka kompensacyjna Lomo:
Oznaczenie fabryczne: СЛ1/4λ
Materiał kryształu: Mika
Opóźnienie optyczne: 1/4 lambda (ok. 140 nm)
Orientacja osi optycznych: ukośna, pod kątem 45 stopni względem krawędzi obudowy

Wymiary:
Długość całkowita: 80 mm
Długość części wsuwanej: 60 mm
Szerokość: 19 mm
Wysokość: 7,5 mm

Wsuwka kompensacyjna ćwierćfalowa (płytka ćwierćfalowa) wprowadzająca przesunięcie fazowe o 1/4 długości fali. Stosowana do standardowej kompensacji, określania znaku optycznego minerałów oraz analizy światła eliptycznie spolaryzowanego.

Osie promienia szybkiego (Np) i wolnego (Ng) są zorientowane pod kątem 45 stopni względem osi podłużnej wsuwki. Jest to konfiguracja standardowa, stosowana w zdecydowanej większości klasycznych mikroskopów polaryzacyjnych, gdzie gniazdo akcesoriów jest równoległe do ramienia statywu, a osie drgań kryształu trafiają w przekątną kierunków polaryzatora i analizatora.

Dostępny jest również drugi wariant tej wsuwki - typu Sénarmont, oznaczana skrótem CP-QS (Compensating Plate, Quarter-wave Sénarmont). W konfiguracji Sénarmont oś kryształu (Ng) biegnie równolegle do kierunku drgań polaryzatora, a efekt 45 stopni jest wymuszony przez gniazdo mikroskopu, a nie przez orientację kryształu w obudowie. Wariant Sénarmont przeznaczony jest do specjalistycznych głowic mikroskopowych LOMO z gniazdem obróconym o 45 stopni oraz do precyzyjnych ilościowych pomiarów opóźnienia optycznego w połączeniu z obrotowym analizatorem i filtrem interferencyjnym (zwykle 546 nm lub 551 nm). Przed zakupem należy sprawdzić konstrukcję posiadanego mikroskopu. Zastosowanie niewłaściwego wariantu sprawi, że osie kryształu nie pokryją się z kierunkiem drgań światła spolaryzowanego, co uniemożliwi prawidłowe wygaszanie tła oraz precyzyjne pomiary i obserwacje konoskopowe.

Opis tej części do mikroskopu.

Polam

Mikroskopowa wsuwka kompensacyjna Lomo:
Oznaczenie fabryczne: СЛ1/4λ (zapis alfabetem łacińskim: SL1/4lambda)
Nazwa alternatywna: Sénarmont, CP-QS (Compensating Plate, Quarter-wave Sénarmont)
Materiał kryształu: Mika
Opóźnienie optyczne: 1/4 lambda (ok. 140 nm)
Orientacja osi optycznych: prostopadła i równoległa do krawędzi obudowy

Wymiary:
Długość całkowita: 80 mm
Długość części wsuwanej: 60 mm
Szerokość: 19 mm
Wysokość: 7,5 mm

Wsuwka kompensacyjna ćwierćfalowa typu Sénarmont (płytka ćwierćfalowa Sénarmont) wprowadzająca przesunięcie fazowe o 1/4 długości fali. W odróżnieniu od standardowej ćwierćfalówki, w konfiguracji Sénarmont oś kryształu (Ng) biegnie równolegle do kierunku drgań polaryzatora, a efekt 45 stopni jest wymuszony przez gniazdo mikroskopu, a nie przez orientację kryształu w obudowie. Stosowana do precyzyjnych ilościowych pomiarów opóźnienia optycznego, określania znaku optycznego minerałów oraz analizy światła eliptycznie spolaryzowanego - w połączeniu z obrotowym analizatorem i filtrem interferencyjnym (zwykle 546 nm lub 551 nm).

Osie promienia szybkiego (Np) i wolnego (Ng) są zorientowane równolegle oraz prostopadle do krawędzi obudowy. Taki układ stosuje się w specyficznych typach głowic mikroskopowych Lomo lub przy niestandardowym (obróconym o 45 stopni) ustawieniu polaryzatorów, aby uzyskać właściwy efekt interferencyjny.

Dostępny jest również pierwszy wariant tej wsuwki - standardowa ćwierćfalówka СЛ1/4λ (zapis alfabetem łacińskim: SL1/4lambda) z osią ukośną 45 stopni, przeznaczona do zdecydowanej większości klasycznych mikroskopów polaryzacyjnych ze standardowym układem gniazda akcesoriów. Przed zakupem należy sprawdzić konstrukcję posiadanego mikroskopu. Zastosowanie niewłaściwego wariantu sprawi, że osie kryształu nie pokryją się z kierunkiem drgań światła spolaryzowanego, co uniemożliwi prawidłowe wygaszanie tła oraz precyzyjne pomiary i obserwacje konoskopowe.

Opis tej części do mikroskopu.

Lomo:
Oznaczenie fabryczne: КВ.КР.1 (Zapis alfabetem łacińskim: KV.KR.1)
Materiał kryształu: Kwarc
Opóźnienie optyczne: 1 lambda (ok. 550 nm)
Orientacja osi optycznych: prostopadła i równoległa do krawędzi obudowy

Wymiary:
Długość całkowita: 80 mm
Długość części wsuwanej: 60 mm
Szerokość: 19 mm
Wysokość: 7,5 mm

Wsuwka kompensacyjna całofalowa (płytka gipsowa / płytka czerwieni pierwszego rzędu) wprowadzająca przesunięcie fazowe o 1 pełną długość fali. Wywołuje czułą barwę interferencyjną - purpurową czerwień pierwszego rzędu - na tle której nawet minimalne zmiany dwójłomności obserwowanego preparatu stają się wyraźnie widoczne jako przejście w barwy niebieskie lub żółte. Stosowana do identyfikacji minerałów o niskiej dwójłomności oraz do określania znaku wydłużenia kryształów.

Opis tej części do mikroskopu.

Lomo:
Oznaczenie fabryczne: brak stalego oznaczenia (opóznienie zmienne)
Materiał kryształu: Kwarc
Opóźnienie optyczne: zmienne płynnie, od I do IV rzędu widma interferencyjnego
Orientacja osi optycznych: zgodna z kierunkiem wsuwania (opóźnienie narasta wraz z głębokością wsunięcia)

Wymiary:
Długość całkowita: 115 mm
Długość części wsuwanej: 78 mm
Szerokość: 19 mm

Wsuwka kompensacyjna w postaci klina kwarcowego o zmiennym, narastającym opóźnieniu optycznym. Umożliwia precyzyjne, ciągłe dostosowanie wartości kompensacji poprzez przesuwanie klina w gnieździe mikroskopu. Stosowana do dokładnego określania rzędu barw interferencyjnych obserwowanych preparatów oraz do precyzyjnego pomiaru dwójłomności kryształów.